2023年9月14日，东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)今日宣布，进一步扩展thermoflaggertm过温检测ic产品线---“tcth0xxxe系列”。该系列可用于具有正温度系数(ptc)热敏电阻的简单电路中，用来检测电子设备中的温度升高，六款新产品于今日开始支持批量出货。

为了使电子设备按规定运行，半导体和其他电子元件必须在设计参数范围内工作。内部温度是一个关键参数，特别是当它高于设计流程中的假设温度时，它就可能成为安全性和可靠性方面的一个主要问题，因此需要过温监测解决方案来检测任何温度升高。

当配置在具有ptc热敏电阻(其电阻值随温度变化而变化)的简单电路中时，thermoflaggertm过温检测ic不仅可以检测温度升高，还可以检测置于热源附近的ptc热敏电阻的电阻变化，并在温度过高时输出flag信号。例如，当thermoflaggertm检测到异常发热情况并向mcu发送flag信号时，mcu将关闭设备或改变正在产热的设备或半导体的运行方式。通过串联ptc热敏电阻可同时在多个点进行过温检测。

这六款新产品分别是：tcth011ae、tcth012ae、tcth021ae、tcth022ae、tcth011be和tcth012be。上述产品加上已经发布的tcth021be和tcth022be，进一步扩展了tcth0xxxe系列产品线，使该产品线增加至8款产品。通过提供对两种类型的ptco输出电流[1]的支持，新产品扩大了ptc热敏电阻的可选范围，既可选择推挽型或开漏型flag信号输出类型[2]，也可选择使用或不使用flag信号锁存功能[3]。扩大产品选择范围，可以实现低电流消耗的灵活电路设计。

新产品采用小型，符合行业标准sot–553封装(东芝的封装名称为：esv)，确保tcth0xxxe系列支持用户为成套电子设备轻松配置过温检测系统，并助力实现尺寸和功耗的双重改善。

除了已经发布的参考设计过温检测ic thermoflaggertm的应用电路(tcth021be/开漏型)之外，东芝在其官网上又发布了新版参考设计：过温检测ic thermoflaggertm应用电路(tcth021ae/推挽型)。

东芝使用村田制作所(以下简称“村田”)提供的ptc热敏电阻的相关技术信息来实现过温检测解决方案。村田建议将thermoflaggertm与ptc热敏电阻结合使用。

未来，东芝将继续扩展其产品线，推出采用各种封装、器件特性不断完善的产品，助力提高设计灵活性并实现碳中和目标。

开漏分配中flag信号输出的操作示例

thermoflaggertm tcth021ae电路板样品

● 应用：

- 移动设备(笔记本电脑等)

- 家用电器

- 工业设备等

● 特性：

- 配置简单，可与ptc[1]热敏电阻结合使用

- 通过串联ptc[1]热敏电阻，可同时在多个点进行过温监测。

- 低电流消耗：

idd=1.8μa(典型值)(tcth011ae、tcth012ae、tcth011be、tcth012be)

idd=11.3μa(典型值)(tcth021ae、tcth022ae)

- 小型标准封装：sot–553(esv)

- 扩大了ptc[1]热敏电阻的选择范围，具有两种类型的ptco输出电流：

iptco=1.00μa(典型值)(tcth011ae、tcth012ae、tcth011be、tcth012be)

iptco=10.0μa(典型值)(tcth021ae、tcth022ae)

- 高ptco输出电流精度：±8%

- flag信号输出(ptcgood)可选择推挽型和开漏型

- 可选择flag信号锁存功能

（东芝供稿）

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